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제목 EMF Weekly Brief IFRE 214호(2018.8.24.)
첨부파일 20180824 EMF_Weekly_Brief_IFRE_214호.hwp
□ 전자파 노출에 대한 지식과 RF-EMF의 위험 인식의 상관관계
(Exposure Knowledge and Risk Perception of RF EMF)



2015.1.13.

출처: frontiers in Public Health


연구기관 : Karlsruhe Institute of Technology (독일)





o 개요





- 이 연구는 EU 프로젝트인 Low EMF Exposure Future Networks(LEXNET) 연구의 일부로서 수행되었으며 ‘15년 1월, frontiers in Public Health에 등재되었음



- 실험자들에게 다양한 노출 특성에 대한 정보를 제시하여 이러한 정보가 실험자들이 인지하는 RF-EMF 노출에 어떠한 영향을 주는지를 분석하였음




- 분석 결과, 정보의 제공은 사람들의 EMF 노출량 인식에 영향을 미치는 것으로 나타났으며, 노출에 대해 인지할 경우 위험 인식 수준이 더 높아지는 경향을 보임 (특히 휴대전화의 경우)





o 연구 배경





- 위험에 대한 인식은 기술에 대한 공개적인 논쟁에서 강력한 힘을 갖고 있으며, 이는 20년 이상 논쟁이 이어지고 있는 휴대전화 EMF의 잠재적인 위험에 대해서도 마찬가지임



- 노출 감소는 두 가지의 상이한 프레임에서 논의될 수 있으며, 첫째는 잠재적인 건강 위험을 예방하기 위한 예방 전략(precautionary strategy)으로서, 전자파의 출력을 최대한 낮추는 방안임




- 두 번째는 무선 통신 네트워크에 대한 대중의 수용을 얻는 접근 방안으로, 인식과 관련된 접근 방법임



- 이 연구는 특정 EMF 노출원이 사람들로부터 얼마나 위험한 것으로 인식되는지에 집중하여, 다양한 노출 시나리오를 제시하였음





o 연구 설계





- EMF 노출 인식과 위험 인지 사이의 관계 분석과 관련하여, 다양한 노출 특성이 잠재적인 건강 위험에 어떠한 영향을 미치는지에 대해 인식을 조사하였음




- 두 번째로, 다양한 노출 특성에 대한 정보가 위험 인지에 실제로 미치는 영향을 분석하였음





o 연구 결과



- 위험에 대한 인식 조사 결과, 학교 옥상에 위치한 이동통신 마스트가 평균 3.34 점으로 가장 위험한 EMF 노출원으로 인식되었음




- 이러한 인식 조사에서 기지국은 분명히 위험한 것으로 인식되었으나 그 외의 노출원과 관련하여 응답자들은 다소 결정적이지 않은 반응을 보였음




- 응답자들은 노출 강도가 가장 중요한 요인이라고 응답하였으며, 노출원의 물리적인 크기와 노출 당일의 시간은 비교적 덜 중요하다고 응답하였음




- 독립 변수로 노출 특성을, 종속 변수를 위험 인식으로 설정하고 회귀 분석을 실시한 결과, EMF 노출원과 관련된 정보가 EMF에 대한 응답자들의 위험 인식에 미치는 영향은 아래와 같았으며, 노출원과의 거리에 대한 정보는 위험 인식에 별다른 영향을 미치지 않았음





o 결론





- 이 연구에서는 다양한 RF-EMF 노출 특성에 대한 정보가 EMF에 대한 위험 인식에 어떤 영향을 미치는지 살펴보았음



- 노출 특성의 영향에 대한 정보는 EMF 위험 인식에 영향을 미치는 것으로 나타났으며, 사람들은 EMF 노출원 중 이동통신 중계기에 대해 가장 높은 수준의 위험을 느끼는 것으로 나타남



- 노출 특성 중, 노출 시간과 전자파의 출력이 가장 큰 영향을 미친다고 응답하였으며, 노출원과의 거리에 대한 정보는 별다른 영향을 미치지 않는 것으로 응답함(응답자들은 거리 정보가 주파수, 출력 세기에 대한 정보만큼 중요하지 않다고 판단)



- 노출원과의 거리 변화에 따른 전자파 강도 정보 등을 제공하여 대중이 직관적으로 인식하는 전자파 위험성과 실제의 Gap을 줄일 수 있다고 판단되며, 전자파 인체 위험에 대한 Risk Communication 활동 시 참고가 가능할 것으로 판단됨





링크 : https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4292220/




(리포터 : 안형상 연구원, 미래전파공학연구소)
 
 
   
 
 
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